专利号：ZL2005100174644   发明人：施晓宇

    本发明是国内外首创。该技术可开发出微米和纳米级游标卡尺。

    该尺可广泛运用于机械制造业对工件外径和厚度等进行精密或超精密测量。该尺最低设计标准的可读值即可与分度值为0.002的杠杆千分尺相同，示值误差同为±0.002mm；而高端尺型的设计标准，则定位于超精技术测量，精确度比现有游标卡尺高100倍以上。该尺从右向左阅读，主尺厘米线上的数字，均被化为毫米后乘过取角用的三角函数值，故一律读为毫米。该尺取角函数值越小，测量精度越高，且具有全量程测微功能，是现有千分尺等精密量具理想的更新换代产品。BB霜排名最好的补水面膜哪个好卸妆脸上毛孔很大怎么办祛痘疤痕修复哪种好评价化妆镜哪个牌子好

    该技术成熟，国内外市场极为广阔。现有量具企业开发该专利技术，投资小见效快。

    该专利有效期为：2005---2025年

    合作方式：技术转让。

    联系人：  施国学

    电话：    0371-67762887

    电子邮箱：sgx@zzu.edu.cn